SMD-2001型逆反射系数测量仪    
FB-94型反光标线测量仪
STT-201型突起路标测量仪
STT-910反光膜附着性测定器
 
地址:
北京市海淀区西土城路8号 院, 2号楼2-302室
电话:
010-82011877 13901288687
传真:
010-81737372
联系人:
谷峪
 
 
    TT220采用了磁性测厚法,是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
主要功能:
1. 可进行零点校准及二点校准。
2. 可对测头进行基本校准。
3. 设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。  
4. 可存贮和统计计算15个测量值。
5. 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
6. 具有自动关机功能。
7. 删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
8. 操作过程有蜂鸣声提示。
9. 有欠压指示功能。
10. 有错误提示功能。
主要技术指标:
1 测量原理:磁性法
2 测量范围:1~1250μm
3 测量精度:±(3%H+1)μm(零点校准)±[(1~3)%H+1] μm(二点校准)
 
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